horiba

HORIBA公司成立于1945年，该公司生产和销售汽车排放测量系统、环境测量仪器、各种科学分析仪和医疗诊断分析仪，以及用于半导体行业的测量设备。HORIBA还制造和销售外围测量和分析设备。此外，公司还为实验室等设施配备了用于研发、生产和其他应用的测量和分析设备。

 

LabRAMSoleil

 

产品特点：

LabRAMSoleil?在紧凑且激光安全的设计中提供多种光学观察模式和高光谱成像功能：

<1m2占地面积

大型1类样品室

反射（反射）/透射（透射）照明

光学显微镜明场/暗场成像

ViewSharp3D地形图

QScan?用于3D共焦成像的高质量扫描技术，带有激光片照明-无需移动即可映射

XYZ3D共焦成像，Z轮廓（单点或逐层，带有QScan?选项）

超低频（30cm-1）拉曼散射作为标准

光致发光(PL)、电致发光、光电流

纳米级光谱学：NanoRaman(TERS)、NanoPL和阴极发光以及我们的AFM和SEM扩展

 

产品参数：

波长范围：紫外-可见-近红外基于宽带高通量消色差镜的系统，在300nm至1600nm范围内进行了优化，无需更换光学元件。

标准激光波长：325、405、473、532、638、785纳米用于拉曼和PL的典型激光器。可根据要求提供其他波长。

光谱仪扫描速度：高达400纳米/秒配备600g/mm光栅，安装在标准Turbodrive4光栅转盘上，用于快速获取拉曼、PL光谱图。

光栅数：无限4个光栅可更换电动炮塔。

快速成像：<1ms/频谱SWIFT、SWIFTXSEMCCD、SWIFT重复、SWIFT扩展范围和用于超快成像的SmartSampling。

激光光片照明的3D共焦切片：QScan（专利）用于大面积2D/3D共聚焦成像的典型2μm厚100x100μm2激光光片。

标准波数截止：30厘米-1带有适用于532、638和785nm波长的边缘滤光片，注入抑制，>99%透射。

激光自动对准程序：15秒可选的超快样品独立激光自动对准允许远程维护。

激光：多达4个内置固态激光器+1个外部激光器提供NUV到NIR波长。

光谱机动模式：多达6个激光滤光片拉曼、PL、超低频……

瑞利滤光片方向：独立过滤器计算机控制工厂预设和用户可调节角度以适应样品反射率。

AFM/SEM耦合：是的用于直接原子力显微镜耦合的内置水平出口，用于与RCLUE的SEM耦合的可选光纤入口。

工作温度范围：18-28°C非冷凝

尺寸(WxDxHinmm)：<900x800x810~1立方米，包括激光器、CDRH外壳、电子设备和冷却装置，以节省实验室空间

重量(kg)：120公斤

能量消耗：<600W满载配置环保安全设计，内置1级外壳，低功耗电子和冷却，1根电源线EU/US类型

 

MacroRAM?

 

产品参数：

波长：785纳米

激光功率：7毫瓦-450毫瓦

激光安全：1级，内部样品室；3b类，外部探头

色散(nmmm-1)：10.3

光谱仪f/#：3.3

光谱仪焦距：115毫米

光谱范围：100–3400厘米-1(斯托克斯)

探测器类型：Syncerity背照式近红外CCD

传感器尺寸：2048x70

像素大小：13微米

探测器冷却：-50°C

动态范围：42,550:1

CCD暗电流(e-/pixel/s)：0.05

光谱分辨率：8cm-1在914nm

尺寸（宽x深x高）：432毫米(17”)x432毫米(17”)x381毫米(15”)

重量：45磅（20.4公斤）

环境温度范围：15–30°C(59–86°F)

最大相对湿度：0.75

力量：通用交流单相输入电源；100-240伏交流电；线路频率50–60Hz

保险丝：一根5x20mmIEC认证、2.0A、250V、延时保险丝

操作系统：Windows7或Windows10（32位或64位）

 

LabRAMSoleilNano

 

产品参数：

SmartSPM扫描仪和底座

样品扫描范围：100μmx100μmx15μm(±10%)

样品扫描类型：XY非线性0.05%；Z非线性0.05%

噪声：XY维度上0.1nmRMS，200Hz带宽，电容传感器开启；0.02nmRMS在100Hz带宽中的XY维度，电容传感器关闭；<0.04nmRMSZ电容传感器，1000Hz带宽

共振频率：XY：7kHz（空载）；Z：15kHz（无负载）

X、Y、Z运动：X、Y、Z轴数字闭环控制；电动Z接近范围18mm

样品尺寸：最大40x50毫米，15毫米厚

样品定位：电动样品定位范围5x5mm

定位分辨率：1μm

原子力显微镜头

激光波长：1300nm，不干扰光谱检测器

配准系统噪声：低至<0.1nm

对准：全自动悬臂和光电二极管对准

探头访问：免费访问探头以获得额外的外部操纵器和探头

SPM测量模式

在空气/（液体可选）中联系AFM；空气/（液体可选）中的半接触AFM；非接触式原子力显微镜；相位成像；横向力显微镜（LFM）；力调制；导电原子力显微镜（可选）；磁力显微镜（MFM）；开尔文探针（表面电位显微镜，SKM，KPFM）；电容和电动力显微镜（EFM）；力曲线测量；压电响应力显微镜（PFM）；纳米光刻；纳米操作；STM（可选）；光电流映射（可选）；伏安特性测量（可选）

 

XGT-9000X射线分析显微镜

 

产品参数：

模型：XGT-9000

功能：X射线荧光分析显微镜

样品类型：固体、液体、颗粒

可检测元素：C*–Am*带可选轻元素检测器（F–Am带标准检测器）

可用的腔室尺寸：450（宽）×500（深）×80（高）

最大样本量：300(W)x250(D)x80(H)

最大样品质量：1公斤

光学观察：两台带物镜的高分辨率相机

光学设计：垂直同轴X射线和光学观察

样品照明/观察：顶部、底部、侧面照明/明暗场

功率：50瓦

电压：高达50kV

目标材料：铑

探头数量：最多4个

X射线荧光检测器：硅漂移探测器(SDD)

透射检测器：钠（铊）

测绘区域：100毫米x100毫米

一步的大小：2毫米

 

模型：XGT-9000SL

功能：X射线荧光分析显微镜

样品类型：固体、液体、颗粒

可检测元素：C*–Am*带可选轻元素检测器（F–Am带标准检测器）

可用的腔室尺寸：1030（宽）×950（深）×500（高）

最大样本量：500（宽）×500（深）×500（高）

最大样品质量：10公斤

光学观察：两台带物镜的高分辨率相机

光学设计：垂直同轴X射线和光学观察

样品照明/观察：顶部、底部、侧面照明/明暗场

功率：50瓦

电压：高达50kV

目标材料：铑

探头数量：最多4个

X射线荧光检测器：硅漂移探测器(SDD)

透射检测器：钠（铊）

测绘区域：350毫米x350毫米

一步的大小：4毫米

 

XGT-9000SLX射线分析显微镜

 

产品参数：

样品类型：固体、液体、颗粒

可检测元素：C*–Am带可选轻元素检测器

可检测元素：F*–Am带标准检测器

可检测元素：*He吹扫条件对于检测低至碳和氟的两个检测器都是必需的

可用的腔室尺寸：1030（宽）×950（深）×500（高）

最大样本量：500（宽）×500（深）×500（高）

最大样品质量：10公斤

光学观察：两台带物镜的高分辨率相机

光学设计：垂直同轴X射线和光学观察

样品照明/观察：顶部、底部、侧面照明/明暗场

力量：50瓦

电压：高达50kV

目标材料：铑

探头数量：最多4个

用于光谱优化的初级X射线过滤器：5个

 

MESA-50X荧光分析仪

 

产品参数：

原理：能量色散X射线荧光光谱法

目标应用：RoHS、ELV、无卤素

测量。元素：13Al-92U

样品类型：固体、液体、粉末

X射线管：最大50kV，0.2mA

X射线照射尺寸：1.2mm、3mm、7mm（自动切换）

X射线初级过滤器：4种（自动切换）

类型：SDD（硅漂移探测器）

信号处理器：数字脉冲处理器

大气层：空气

样品观察：CCD相机

系统电脑(Windows?7)

电源供应：交流适配器（100-240V，50/60Hz）

 

MESA-50KX荧光分析仪

 

产品参数：

目标应用：RoHS、ELV、无卤素

测量。元素：13Al-92U

样品类型：固体、液体、粉末

X射线管：最大50kV，0.2mA

X射线照射尺寸：1.2mm、3mm、7mm（自动切换）

X射线初级过滤器：4种（自动切换）

类型：SDD（硅漂移探测器）

信号处理器：数字脉冲处理器

大气层：空气

样品观察：CCD相机

腔室尺寸：460x360x150毫米[宽x深x高]

系统：电脑(Windows?7)

电源供应：100-240V，50/60Hz

尺寸：590x590x400毫米[宽x深x高]

重量：60公斤

分析功能：多层膜FPM（可选）、Sb/As分析（可选）

 

碳、硫、氧、氮和氢分析仪

 

型号示例：

EMIA-Pro碳/硫分析仪

EMIA-Expert碳/硫分析仪

EMIA-Step碳/硫分析仪

EMGA-Pro氧/氮/氢分析仪

EMGA-Expert氧/氮/氢分析仪

EMGA-920氧/氮分析仪

EMGA-921氢分析仪

EMGA-930氧/氮/氢分析仪